Ricerca | Microscopia Elettronica2 SEM E DYNAMIC LASER SCATTERING
Ricerca Microscopia Elettronica2 SEM E DYNAMIC LASER SCATTERING
Membri
| REVERCHON ErnestoResponsabile Scientifico |
| Caratterizzazione morfologica ed elementare di polveri, a livello nanometrico, mediante microscopia elettronica a scansione e sonda a raggi X. Determazione della distribuzione granulometrica di polvere mediante granulometro laser e nanosizer. |
