Research | Microscopia a Scansione di Sonda (AFM)
Laboratories
Members
| PANTANI RobertoResponsabile Scientifico | |
| SPERANZA VitoResponsabile Tecnico |
| Caratterizzazione morfologica, a livello nanometrico, delle superfici mediante microscopia a scansione di sonda sia a temperatura ambiente che a temperatura fissata; caratterizzazione, a livello nanometrico, meccanica, termica ed elettrica delle superfici mediante microscopia a scansione di sonda. Miscoscopia ottica e caratterizzazione delle proprietà superficiali e del colore. Microscopia SEM |
