Microscopia Elettronica2 SEM E DYNAMIC LASER SCATTERING

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REVERCHON ErnestoResponsabile Scientifico
Caratterizzazione morfologica ed elementare di polveri, a livello nanometrico, mediante microscopia elettronica a scansione e sonda a raggi X. Determazione della distribuzione granulometrica di polvere mediante granulometro laser e nanosizer.